机译:使用实验室X射线衍射装置对硅上的III–V光子学平台的GaP / Sinanolayers中的微孪晶和反相缺陷进行定量评估
机译:使用实验室X射线衍射装置对硅上的III-V光子学平台的GaP / Si纳米层中的微孪晶和反相缺陷进行定量评估
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机译:使用实验室X射线衍射装置对硅上的III–V光子学平台进行GaP / Si纳米层中的微孪晶和反相缺陷的定量评估
机译:使用实验室X射线衍射装置对硅上的III–V光子学平台的GaP / Sinanolayer中的微孪晶和反相缺陷进行定量评估